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Low-e膜层四点电阻测试仪

Low-e膜层四点电阻测试仪

详细信息

RC3175/RC2175


Low-e膜层四点电阻测试仪


RC2175

RC3175

单位

量程

0-1999

0-199.9

Ohms/square

读数

1

0.1

精度

3%

0.9%


            国家玻璃质量监督检测中心
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            邮  编:066004
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            联系人:王立祥

设备开发

技术支撑:艾米科技
 
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